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- F10-RTFilmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的分析能力。測(cè)量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
- 型號(hào)：F10-RT
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F20Filmetrics 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
無(wú)論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)ilmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x適用于各種應(yīng)用。
- 型號(hào)：F20
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F40Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。當(dāng)測(cè)量需要在待測(cè)樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí)，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測(cè)量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。
- 型號(hào)：F40
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F50Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化MAPPING
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x依靠光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非常快速，大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x配置精度高使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái)，以求能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。
- 型號(hào)：F50
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F54-XY-200Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng)，可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。
- 型號(hào)：F54-XY-200
- 更新日期：2025-09-23 ￥面議
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- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀
Filmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備，能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過(guò)率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級(jí)分辨率，測(cè)量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景，包括半導(dǎo)體、光學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
- 型號(hào)：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F54-XYT-300Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀
Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚度測(cè)量，速度達(dá)到每秒兩點(diǎn)。
- 型號(hào)：F54-XYT-300
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F32Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤(pán)，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置(EXR和UVX版本至多兩個(gè)位置)。F32膜厚儀軟件可以通過(guò)數(shù)字I/O或主機(jī)軟件來(lái)控制啟動(dòng)/停止/復(fù)位測(cè)量。測(cè)量數(shù)據(jù)可以自動(dòng)導(dǎo)出到主機(jī)軟件中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制。還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。
- 型號(hào)：F32
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
