XRF鍍層測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析。基于微軟中文視窗系統的中文版應用軟件包，實現了對CMI主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動范圍、相對偏差等多種數據分析模式。

　　XRF鍍層測厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

　　XRF鍍層測厚儀測量注意事項：

　　1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

　　2、測量時側頭與試樣表面保持垂直。

　　3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

　　5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

　　6、測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

　　7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。

　　8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸。