Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀產品介紹：

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，速度達到每秒兩點。

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀產品特點優勢：

• 自動化薄膜厚度繪圖系統，快速定位、實時獲得結果；

• 可測樣品膜層：基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；

• 測繪結果可用2D或3D呈現，方便用戶從不同的角度檢視；

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀測量原理：

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀產品應用與膜層范例：

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀產品常見工業應用：

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀產品參數：

Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學膜厚儀測量圖：