Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產品介紹：

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎所發展而來。F10-HC 薄膜厚度測量系統的接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀軟件的模擬演算法的設計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產品特點優勢：

• 具備價格優勢的薄膜測量系統；

• 具備簡易的操作系統，新樣板模式功能的F10-HC薄膜厚度測量儀自動通知測量結果；

• 自動化基準矯正以及設置自己的積分時間；

• 接觸式探頭大大降低反射干擾的影響；

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產品測量原理：

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀產品應用與膜層范例：

音膜厚度檢測，通過反射率信息計算音膜的厚度測量，采用接觸式探頭，從而降低背面反射影響，更好的對膜的凹凸不規則表面進行測量。

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀產品參數：

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀測量圖：